Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Фульц Б., Хау Джеймс М.; Даниленко В.И. (пер. с англ.) : Мохов А.В. (ред.)

Другие авторы:

Язык: Русский Выходные данные: Москва: Техносфера, 2011Физическая характеристика: 903 с. илISBN:

Серия: Мир физики и техникиУДК:620.187 ; 621.385.833.2(02) ; 537.533.35 ; 539.26

Тип экземпляра: Книга

Экземпляры
Текущая библиотека	Шифр хранения	Статус	Срок возврата	Штрих-код
Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук НЦВО	2992-НЦВО	Доступно

Предм. указ.: с. 883-903

Пер. изд.: Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Fultz Brent 3d ed. Berlin; Heidelberg : Springer, cop. 2008.