Metody analyzy povrchu : Elektronova mikroskopie a difrakce / Delong Armin, Frank Ludek, Knor Zlatko et al.; Ed. Eckertova Ludmila, Frank Ludek; Akad. ved Ceske Rep. — Praha : Academia, 1996. — 379 с. : ил. — ISBN 8020003290.
Библиогр. в конце глав.
Указ. : с. 377-379.
Методы анализа поверхности: Электронная микроскопия и электронная дифракция.
УДК: 537.533.35 ; 539.27:539.124.5 ; 544.72:543.4/.5 ; 620.187
[ SYS NUM: 5672 ]