Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учебное пособие для вузов / Криштал Михаил Михайлович и др. — Москва : Техносфера, 2009. — 206 с. : ил. (Мир физики и техники). — ISBN 9785948362007.
Библиогр.: с. 55-56.
Ясников, И. С.
Криштал, Михаил Михайлович
Полунин, В. И.
Филатов, А. М.
Ульяненков, А. Г.
УДК: 621.385.833.2(07)
[ SYS NUM: 6210 ]