TY  - BOOK
AU  - Ясников, И. С.
AU  - Криштал, Михаил Михайлович
AU  - Полунин, В. И.
AU  - Филатов, А. М.
AU  - Ульяненков, А. Г.
TI  - Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ: учебное пособие для вузов
T2  - Мир физики и техники
SN  - 9785948362007
PY  - 2009///
CY  - Москва
PB  - Техносфера
N1  - Библиогр.: с. 55-56
ER  -