TY  - BOOK
AU  - Брандон,Д.
AU  - Каплан, У.
AU  - Баженова, С. Л.
TI  - Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие : пер. с англ
T2  - Мир материалов и технологий
SN  - 5948360180
PY  - 2004///
CY  - Москва
PB  - Техносфера
N1  - Библиогр. в конце гл; Предм. указ.: с. 376-377
ER  -