000			01481nam a2200301 c 4500
001			000169340
003			GPIRAS
005			20230407085905.0
008			090604s2009 ru a||||||||||||||||rus d
020			_a9785948362007
035			_a(RuMoBEN Bibliobus) 045240
040			_aRuMoBEN _brus _ercr
041			_arus
044			_aru
080			_a621.385.833.2(07)
245	0	0	_aСканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ _bучебное пособие для вузов _cКриштал Михаил Михайлович и др
260			_aМосква _bТехносфера _c2009
300			_a206 с. _bил.
490	0		_aМир физики и техники
504			_aБиблиогр.: с. 55-56
700	0		_aЯсников, И. С.
700	0		_aКриштал, Михаил Михайлович
700	0		_aПолунин, В. И.
700	0		_aФилатов, А. М.
700	0		_aУльяненков, А. Г.
887			_aСканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учебное пособие для вузов / Криштал Михаил Михайлович и др. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 55-56. - ISBN 978-5-94836-200-7. _2Bibliobus
942			_cBK
999			_c6210 _d6210