| 000 | 01278nam a22003011i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | rc\2222919 | ||
| 003 | GPIRAS | ||
| 005 | 20230407085951.0 | ||
| 008 | 110826s1979---- | c | ||
| 040 |
_aGPIRAS _brus _ercr |
||
| 041 | 1 |
_arus _heng |
|
| 245 | 1 |
_aСпектроскопические методы определения следов элементов _c[Дж. Вайнфорднер, Т. О'Хейвер, Р. Элсер и др.] _cРед. Дж. Вайнфорднер _cПер. с англ. Ю.И. Беляева, Г.И. Рамендика _cПод ред. О.М. Петрухина, В.В. Недлера |
|
| 260 |
_aМосква _bМир _c1979 |
||
| 300 |
_a494 с. _bил. _c22 |
||
| 500 | _aАвт. указаны в огл. | ||
| 500 | _aПеревод. изд.: Trace analysis spectroscopic methods for elements (New York etc.) | ||
| 504 | _aБиблиогр. в конце глав | ||
| 504 | _aПредм. указ.: с. 478-486 | ||
| 650 |
_2psbo _aСпектральный анализ |
||
| 700 | 1 | _aО'Хейвер | |
| 700 | 1 | _aЭлсер | |
| 700 | 1 |
_aРамендик _4730 |
|
| 700 | 1 |
_aПетрухин _4340 |
|
| 700 | 1 |
_aНедлер _4340 |
|
| 700 | 1 |
_aВайнфорднер _4570 |
|
| 700 | 1 |
_aБеляев _4730 |
|
| 942 | _cBK | ||
| 999 |
_c8161 _d8161 |
||