000 | 01011nam a2200277 c 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 000008847 | ||
003 | GPIRAS | ||
005 | 20230414112417.0 | ||
008 | 191008s1988 ru a||||||||||||||||rus d | ||
020 | _a5110002304 | ||
035 | _a(RuMoBEN) 000133356 | ||
040 |
_aRuMoBEN _brus _ercr |
||
041 | _arus | ||
044 | _aru | ||
080 | _a537.311.322.01(07) | ||
080 | _a537.311.322.08(07) | ||
080 | _a004.4:537.311.322(07) | ||
100 | 1 | _aВоробьев, Юрий Васильевич | |
245 | 0 | 0 |
_aМетоды исследования полупроводников _bучебное пособие для вузов _cВоробьев Ю.В., Добровольский В.Н., Стриха В.И. |
260 |
_aКиев _bВыща школа _c1988 |
||
300 |
_a230, [1] с. _bил. |
||
504 | _aБиблиогр.: с. 230 — [231] | ||
700 | 0 | _aДобровольский, Валентин Николаевич | |
700 | 0 | _aСтриха, Виталий Илларионович | |
942 | _cBK | ||
999 |
_c8847 _d8847 |