Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках (Запись № 8111)

Подробности
000 -МАРКЕР
контрольное поле 00758nam a22002051i 4500
001 - КОНТРОЛЬНЫЙ НОМЕР ЗАПИСИ
контрольное поле rc\1005864
003 - ПРИНАДЛЕЖНОСТЬ КОНТРОЛЬНОГО НОМЕРА
контрольное поле GPIRAS
005 - ДАТА И ВРЕМЯ ПОСЛЕДНЕЙ ТРАНЗАКЦИИ
контрольное поле 20230407085950.0
008 - ЭЛЕМЕНТЫ ДАННЫХ ФИКСИРОВАННОЙ ДЛИНЫ
контрольное поле 041129s1981---- | c
040 ## - ОРГАНИЗАЦИЯ-СОЗДАТЕЛЬ ЗАПИСИ
организация-создатель исходной библиографической записи GPIRAS
язык каталогизации rus
правила каталогизации rcr
041 ## - КОД ЯЗЫКА
код языка текста Русский
100 1# - ИМЯ ЛИЦА КАК ОСНОВНОЙ ПОИСКОВЫЙ ПРИЗНАК
имя лица Вавилов
более полная форма имени Виктор Сергеевич
245 1# - ОБЛАСТЬ ЗАГЛАВИЯ И СВЕДЕНИЙ ОБ ОТВЕТСТВЕННОСТИ
заглавие Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
сведения об ответственности и т. д В.С. Вавилов, А.Е. Кив, О.Р. Ниязова
260 ## - ОБЛАСТЬ ВЫХОДНЫХ ДАННЫХ
место публикации, распространения, изготовления и т. д М.
издательство, издатель, распространитель и т. д Наука
дата издания, распространения и т. д 1981
300 ## - ОБЛАСТЬ КОЛИЧЕСТВЕННОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ
объём 368 с.
прочее ил.
размеры 20
504 ## - ПРИМЕЧАНИЕ О НАЛИЧИИ БИБЛИОГРАФИЧЕСКИХ ПЕРЕЧНЕЙ И ССЫЛОК
текст примечания Библиогр.: с. 320-360, 367-368 (30 назв.)
700 1# - ИМЯ ЛИЦА КАК ДОБАВОЧНЫЙ ПОИСКОВЫЙ ПРИЗНАК
имя лица Кив
более полная форма имени Арик Ефимович
700 1# - ИМЯ ЛИЦА КАК ДОБАВОЧНЫЙ ПОИСКОВЫЙ ПРИЗНАК
имя лица Ниязова
более полная форма имени Озод Рахимовна
942 ## - ДАННЫЕ О ЗАПИСИ (KOHA)
Тип экземпляра (KOHA) Книга
Экземпляры
Статус выдачи Библиотека держатель Текущая библиотека Местонахождение Дата поступления Шифр хранения Тип экземпляра
  Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук ИОФ 17.10.2022 1-808 Книга