Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках / В.С. Вавилов, А.Е. Кив, О.Р. Ниязова

Другие авторы:

Язык: Русский Выходные данные: М.: Наука, 1981Физическая характеристика: 368 с. ил. 20

Тип экземпляра: Книга

Экземпляры
Текущая библиотека	Шифр хранения	Статус	Срок возврата	Штрих-код
Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук ИОФ	1-808	Доступно

Библиогр.: с. 320-360, 367-368 (30 назв.)