Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ учебное пособие для вузов

     Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учебное пособие для вузов / Криштал Михаил Михайлович и др. — Москва : Техносфера, 2009. — 206 с. : ил. (Мир физики и техники). — ISBN 978-5-94836-200-7.

Библиогр.: с. 55-56.

Криштал, Михаил Михайлович
Ясников, И. С.
Полунин, В. И.
Филатов, А. М.
Ульяненков, А. Г.

УДК: 621.385.833.2(07)

[ SYS NUM: 2298 ]