Книга
Тип экземпляра:
Книга
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учебное пособие для вузов / Криштал Михаил Михайлович и др
Язык: Русский Выходные данные: Москва: Техносфера, 2009Физическая характеристика: 206 с. илISBN:- 978-5-94836-200-7
Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код |
---|---|---|---|---|
Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук | Доступно |
Библиогр.: с. 55-56