Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ (Запись № 2298)
[ простой вид ]
| 000 -МАРКЕР | |
|---|---|
| контрольное поле | 01483nam a2200301 c 4500 |
| 001 - КОНТРОЛЬНЫЙ НОМЕР ЗАПИСИ | |
| контрольное поле | 000002298 |
| 003 - ПРИНАДЛЕЖНОСТЬ КОНТРОЛЬНОГО НОМЕРА | |
| контрольное поле | GPIRAS |
| 005 - ДАТА И ВРЕМЯ ПОСЛЕДНЕЙ ТРАНЗАКЦИИ | |
| контрольное поле | 20230407085732.0 |
| 008 - ЭЛЕМЕНТЫ ДАННЫХ ФИКСИРОВАННОЙ ДЛИНЫ | |
| контрольное поле | 090818s2009 ru a||||||||||||||||rus d |
| 020 ## - МЕЖДУНАРОДНЫЙ СТАНДАРТНЫЙ НОМЕР КНИГИ (ISBN) | |
| международный стандартный номер книги | 978-5-94836-200-7 |
| 035 ## - КОНТРОЛЬНЫЙ НОМЕР СИСТЕМЫ | |
| контрольный номер системы | (GPIRAS Bibliobus) 002372 |
| 040 ## - ОРГАНИЗАЦИЯ-СОЗДАТЕЛЬ ЗАПИСИ | |
| организация-создатель исходной библиографической записи | GPIRAS |
| язык каталогизации | rus |
| правила каталогизации | rcr |
| 041 0# - КОД ЯЗЫКА | |
| код языка текста | Русский |
| 044 ## - КОД СТРАНЫ ПУБЛИКАЦИИ/ИЗГОТОВЛЕНИЯ | |
| MARC код страны публикации/изготовления | Российская Федерация |
| 080 ## - ИНДЕКС УНИВЕРСАЛЬНОЙ ДЕСЯТИЧНОЙ КЛАССИФИКАЦИИ | |
| индекс Универсальной десятичной классификации | 621.385.833.2(07) |
| 245 00 - ОБЛАСТЬ ЗАГЛАВИЯ И СВЕДЕНИЙ ОБ ОТВЕТСТВЕННОСТИ | |
| заглавие | Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ |
| сведения, относящиеся к заглавию, и т. д | учебное пособие для вузов |
| сведения об ответственности и т. д | Криштал Михаил Михайлович и др |
| 260 ## - ОБЛАСТЬ ВЫХОДНЫХ ДАННЫХ | |
| место публикации, распространения, изготовления и т. д | Москва |
| издательство, издатель, распространитель и т. д | Техносфера |
| дата издания, распространения и т. д | 2009 |
| 300 ## - ОБЛАСТЬ КОЛИЧЕСТВЕННОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ | |
| объём | 206 с. |
| прочее | ил. |
| 490 0# - ОБЛАСТЬ СЕРИИ | |
| область серии | Мир физики и техники |
| 504 ## - ПРИМЕЧАНИЕ О НАЛИЧИИ БИБЛИОГРАФИЧЕСКИХ ПЕРЕЧНЕЙ И ССЫЛОК | |
| текст примечания | Библиогр.: с. 55-56 |
| 700 0# - ИМЯ ЛИЦА КАК ДОБАВОЧНЫЙ ПОИСКОВЫЙ ПРИЗНАК | |
| имя лица | Криштал, Михаил Михайлович |
| 700 0# - ИМЯ ЛИЦА КАК ДОБАВОЧНЫЙ ПОИСКОВЫЙ ПРИЗНАК | |
| имя лица | Ясников, И. С. |
| 700 0# - ИМЯ ЛИЦА КАК ДОБАВОЧНЫЙ ПОИСКОВЫЙ ПРИЗНАК | |
| имя лица | Полунин, В. И. |
| 700 0# - ИМЯ ЛИЦА КАК ДОБАВОЧНЫЙ ПОИСКОВЫЙ ПРИЗНАК | |
| имя лица | Филатов, А. М. |
| 700 0# - ИМЯ ЛИЦА КАК ДОБАВОЧНЫЙ ПОИСКОВЫЙ ПРИЗНАК | |
| имя лица | Ульяненков, А. Г. |
| 887 ## - Данные не-MARC | |
| Содержание | Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учебное пособие для вузов / Криштал Михаил Михайлович и др. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 55-56. - ISBN 978-5-94836-200-7. |
| Источник данных | Bibliobus |
| 942 ## - ДАННЫЕ О ЗАПИСИ (KOHA) | |
| Тип экземпляра (KOHA) | Книга |
| Статус выдачи | Библиотека держатель | Текущая библиотека | Дата поступления | Тип экземпляра |
|---|---|---|---|---|
| Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук | Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук | 18.08.2009 | Книга |